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NONO, M. C. A.; VIEIRA, R. A.; OLIVEIRA, A. C. C.; OLIVEIRA, I. C. AFM and XRD surface analyses of TiN nanostructured films for application as mos-fet devices. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON SURFACES, COATING AND NANOSTRUCTURED MATERIALS., , Aveiro, Portugal. Proceedings... 2005. Disponível em: <http://urlib.net/ibi/6qtX3pFwXQZ3r59YDa/JvuDz>.
Como Fazer a Citação no Texto (por autor/ano)
... como proposto por Nono et al. (2005).
... pode ser encontrada na literatura (NONO et al., 2005).